[发明专利]辐射场均匀性校验定位装置有效
申请号: | 201210092277.2 | 申请日: | 2012-03-31 |
公开(公告)号: | CN102608558A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 马欣;邹子英;陆敏;龚增;王晖;张亮;田禾箐 | 申请(专利权)人: | 上海市计量测试技术研究院 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王江富 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种辐射场均匀性校验定位装置,其包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒;所述垂直连杆,底端固定在所述底板上;所述水平套筒,套设在所述垂直连杆外部,能沿所述垂直连杆轴向滑动;所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构,用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定;所述水平连杆,一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆,另一端用于固定电场探头;所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。本发明的辐射场均匀性校验定位装置,能提高提高辐射场均匀性测试结果的准确性,并提高辐射场均匀性校验定位操作的效率、准确性。 | ||
搜索关键词: | 辐射 均匀 校验 定位 装置 | ||
【主权项】:
一种辐射场均匀性校验定位装置,其特征在于,包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒;所述垂直连杆,底端固定在所述底板上;所述水平套筒,套设在所述垂直连杆外部,能沿所述垂直连杆轴向滑动;所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构,用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定;所述水平连杆,一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆,另一端用于固定电场探头;所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。
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