[发明专利]一种对金属电容上电极的刻蚀方法在审
申请号: | 201210081771.9 | 申请日: | 2012-03-26 |
公开(公告)号: | CN103367104A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 欧少敏;吴明龙;周广伟;许昕睿 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/28 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张静洁;徐雯琼 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种对金属电容上电极的刻蚀方法,该金属电容包含在衬底上淀积的第一金属层,在第一金属层上淀积的绝缘层,在绝缘层上淀积的作为金属电容上电极的第二金属层;该方法包含:步骤1主刻蚀:使用化学刻蚀结合物理轰击的方法,图案化垂直刻蚀金属电容的上电极第二金属层,形成若干凹槽并在凹槽底部剩余部分第二金属层残留;步骤2过刻蚀:使用纯化学刻蚀方法,施加一个低偏压射频功率,垂直刻蚀凹槽内剩余部分的第二金属层及一定厚度的绝缘层。利用本发明方法,可避免金属电容上电极的侧壁被横向水平刻蚀,保证其垂直度和完整性;并可有效改善刻蚀后剩余绝缘层的电介质厚度的一致性和稳定性,有利于提高制成后的成品金属电容的质量和性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 金属 电容 电极 刻蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种对金属电容上电极的刻蚀方法,所述金属电容包含在晶圆衬底(1)上淀积生成的第一金属层(2),在所述第一金属层(2)上淀积生成的绝缘层(3),以及在所述绝缘层(3)上淀积生成作为金属电容上电极的第二金属层(4);其特征在于,所述对金属电容上电极的刻蚀方法具体包含以下步骤:步骤1、主刻蚀:使用化学刻蚀结合物理轰击的方法,图案化垂直刻蚀金属电容的上电极第二金属层(4),形成若干凹槽,该主刻蚀步骤由特征波长的光谱发射强度变化控制刻蚀终点,此时将在凹槽底部剩余部分第二金属层4残留;步骤2、过刻蚀:使用纯化学刻蚀方法,并施加一个低偏压射频功率,进一步刻蚀凹槽内剩余部分的第二金属层(4)残留及一定厚度的绝缘层(3)。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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