[发明专利]分析装置及分析方法有效
| 申请号： | 201210080753.9 | 申请日： | 2012-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN102692444A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 白木裕章;松本大辅;中山雄介;安达玄纪 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/453 | 分类号： | G01N27/453;G01N27/447 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 高培培;车文 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析装置及分析方法。分析装置(10)是使用设置有流路的微芯片(30)进行电泳的装置，分析装置(10)具有：冷却部(电子冷却元件(12)及驱动电路(13))，冷却微芯片(30)；电压施加部(电极(14a、14b)、电源电路(15))，向填充到微芯片(30)的流路(32)的缓冲液施加电压；光学分析部(光源(16)、受光元件(17)、分析部(18))，通过微芯片(30)，对导入到流路(32)的试料进行光学分析；控制部(20)，控制冷却部、电压施加部及光学分析部，控制部(20)使冷却部开始微芯片(30)的冷却，在微芯片(30)冷却后，使电压施加部及光学分析部工作。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种分析装置，使用设置有流路的微芯片进行电泳，其特征在于，具有：冷却部，冷却上述微芯片；电压施加部，向填充到上述微芯片的流路的缓冲液施加电压；光学分析部，通过上述微芯片，对导入到上述流路的试料进行光学分析；控制部，控制上述冷却部、上述电压施加部及上述光学分析部，上述控制部使上述冷却部开始上述微芯片的冷却，在上述微芯片冷却后，使上述电压施加部及上述光学分析部工作。
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