[发明专利]P型重掺杂碳化硅薄膜外延制备方法有效
申请号: | 201210077304.9 | 申请日: | 2012-03-22 |
公开(公告)号: | CN102592976A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 王悦湖;杨阳;张玉明;张晓朋 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种P型重掺杂碳化硅薄膜外延制备方法,主要解决现有技术无法实现碳化硅高质量重掺杂的问题,其实现步骤是:先将碳化硅衬底放入反应室;在氢气流中加热反应室,当温度达到1400℃后,在氢气流中加入C3H8;当温度达到1580℃后,对衬底进行原位刻蚀10~30min;其后保持反应室温度1580℃,气压100mbar,在20L/min的氢气流中加入流量为15~24mL/min的SiH4,流量为5~10mL/min的C3H8和流量为3.2×10-5mol/min的三甲基铝,生长外延层;生长结束后,在氢气流中冷却;最后向反应室充入氩气至常压。本发明制备的碳化硅外延层掺杂浓度在4×1019cm-3~4.6×1019cm-3,掺杂均匀,表面平整,可用于制作碳化硅器件。 | ||
搜索关键词: | 掺杂 碳化硅 薄膜 外延 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种P型重掺杂碳化硅薄膜外延制备方法,包括如下步骤:(1)将碳化硅衬底放置到碳化硅CVD设备的反应室中,将反应室抽成真空;(2)保持反应室气压为100mbar,在20L/min的氢气流中,使用加热源逐渐加热衬底,使其温度缓缓上升,当温度超过1400℃后,在氢气流中加入流量为5~10mL/min的C3H8;(3)当反应室温度达到1580℃后,保持温度恒定,继续保持反应室气压和氢气流中加入的C3H8流量不变,采用H2与C3H8的混合气体对衬底进行10~30min的原位刻蚀;(4)保持反应室气压和温度恒定,在10~20L/min的氢气流中加入流量为15~24mL/min的SiH4和流量为5~10mL/min的C3H8,并通入反应室;将液态三甲基铝放置于鼓泡器中用作掺杂源,将10ml/min的H2通入鼓泡器中,使H2携带流量为3.2×10‑5mol/min的三甲基铝通入反应室中,生长掺杂浓度为4×1019cm‑3~4.6×1019cm‑3的重掺杂外延层;(5)当达到设定的外延生长时间后,停止生长,在反应室继续通入氢气,使衬底片在氢气流中降温;(6)当温度降低到700℃以下后,再次将反应室抽成真空,然后缓慢充入氩气,使衬底片在氩气环境下自然冷却到室温。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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