[发明专利]导管移动光电检测装置无效
申请号: | 201210067384.X | 申请日: | 2012-03-14 |
公开(公告)号: | CN102607424A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 董建增 | 申请(专利权)人: | 董建增;北京安效技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司 11241 | 代理人: | 吴杰;左明坤 |
地址: | 100029 北京市朝阳区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种导管移动光电检测装置,包括发光管,其发射的激光照射在导管上;聚光镜,其将发光管反射到其上的反射激光进行聚光并输出;光电检测器,其连续检测聚光镜输出的聚光后的反射激光,根据该聚光后的反射激光获取导管的点阵图像,对比导管前后相邻两帧的点阵图像得到其相对位移变化数据;单片机,其通过SPI接口从光电检测器接收相对位移变化数据,根据相对位移变化数据解析求出导管在其位移方向上的位移点阵数;PC机,其通过串口从单片机接收位移方向上的位移点阵数,根据位移方向上的位移点阵数计算出导管的径向位移和或轴向位移,与现有机械摩擦式位移检测相比,其准确度和精度得到了提高。 | ||
搜索关键词: | 导管 移动 光电 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种导管移动光电检测装置,其特征在于,包括:发光管(1),其发射的激光照射在导管(2)上;聚光镜(3),其将所述发光管(1)反射到其上的反射激光进行聚光并输出;光电检测器(4),其连续检测所述聚光镜(3)输出的聚光后的反射激光,根据该聚光后的反射激光获取所述导管(2)的点阵图像,对比所述导管(2)前后相邻两帧的点阵图像得到其相对位移变化数据;单片机(5),其通过SPI接口从所述光电检测器(4)接收所述相对位移变化数据,根据所述相对位移变化数据解析求出所述导管(2)在其位移方向上的位移点阵数;PC机(6),其通过串口从所述单片机(5)接收所述位移方向上的位移点阵数,根据所述位移方向上的位移点阵数计算出所述导管(2)的径向位移和或轴向位移。
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