[发明专利]一种用于矿物扫描分析的高光谱成像仪无效
申请号: | 201210058888.5 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN103308453A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 李晶;王宏 | 申请(专利权)人: | 王宏 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01J3/45 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100070 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种适用于矿物分析高光谱成像光谱仪,适用于在矿业勘探过程中的矿物样品分析以及岩芯扫描编录过程,利用不同矿物的光谱频段响应特性,对岩石进行高光谱扫描、分析与标识,属于高光谱成像探测技术领域。该类型光谱仪器由光源、前置光学系统、标定系统、干涉光路系统、采集与分析系统等几部分组成。其中干涉光路系统由4块三角形的玻璃组合成Sagnac干涉系统,通过直角放置,可以快速完成光路的调整,形成对目标辐射的切割。标定系统采用小型固体激光器作为标定光源3,由反射镜4引入干涉光路,在仪器进行自校准和调整时开启,完成对仪器光学系统的监测。系统的采集与分析部分将目标的干涉图样,进行数字化分析处理,通过傅里叶变换得到高光谱图像。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 矿物 扫描 分析 光谱 成像 | ||
【主权项】:
一种具有高通量,高信噪比,高稳定,结构简单的Sagnac型干涉成像光谱仪,其特征在于:包括光源,前置光学模块,干涉光路模块,信息收集和分析模块,定标模块;A、成像光谱仪采用卤钨灯照射待分析的样品,可以提供高通量的入射能量。B、干涉模块为成像光谱仪的核心部分,由4块安装调试简易的直角三角形玻璃组成,形成Sagnac型光路,2块作为反射镜的三角形玻璃非对称的放置,入射光束被切割分为相同或近似的2束。C、定标模块由小型固体激光器、反射镜以及自动狭缝组成。当系统启动自检模式或进行调整时,激光器打开,狭缝关闭主光路,系统进入定标模式。D、信息收集与分析模块主要由光收集模块和面阵探测器组成,由面阵探测器得到的空间图像及干涉图像经过傅里叶变换处理后,得到高光谱图像。依据在不同波长下的高光谱图像,对目标样品的不同矿物类型进行辨识,并以不同颜色和深浅进行标识。
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