[发明专利]一种双频He-Ne激光器频率测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201210058127.X 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN102589856A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 吴学健;尉昊赟;朱敏昊;周蕾;李岩 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贾玉健
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种双频He-Ne激光器频率测量装置及其测量方法,其包括相连接的稳频激光系统和双频激光频率测量系统;稳频激光系统将可调谐激光器的输出激光频率锁定至光频梳的任意梳齿,使得可调谐激光器的输出激光频率可溯源至铷钟频率基准;双频激光频率测量系统将已锁定的可调谐激光器的输出激光与待测双频He-Ne激光器的输出激光拍频,同时测量两个正交偏振激光频率;本发明可同时测双频He-Ne激光两个正交偏振激光的绝对频率,测量结果可溯源至铷钟频率基准,系统抗干扰能力强适用于工业环境中的双频He-Ne激光器频率测量和标定。
搜索关键词: 一种 双频 he ne 激光器 频率 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种双频He‑Ne激光器频率测量装置,其特征在于:包括相互连接的稳频激光系统(1)和双频激光频率测量系统(2);所述稳频激光系统(1)包括依次连接的可调谐激光器(101)、光隔离器(102)以及第一光纤准直器(103),和所述第一光纤准直器(103)通过保偏光纤(104)依次连接的保偏光纤耦合器(105)、第二光纤准直器(106)、第一1/2波片(107)、第一偏振分光立方体(108)、第一偏振片(111)以及光栅(112),所述第一1/2波片(107)和第一偏振片(111)连接在第一偏振分光立方体(108)的一中轴线上,第二1/2波片(110)通过保偏光纤(104)连接在第一偏振分光立方体(108)的另一中轴线上,光频梳(109)通过保偏光纤(104)和第二1/2波片(110)相连接,平面反射镜(113)的位置使光栅(112)反射的光束经过平面反射镜(113)反射后入射至第一光电探测器(114),所述第一光电探测器(114)依次和放大器(115)、鉴相器(116)、控制器(117)电连接,所述控制器(117)的输出端和所述可调谐激光器(101)的电流调制端口电连接,计算机(119)的信号输入端口分别与可调谐激光器(101)、波长计(120)和控制器(107)的信号输出端口相电连接,铷钟(118)的输出端分别与所述光频梳(109)和鉴相器(116)的输入端相电连接;所述双频激光频率测量系统2包括和所述稳频激光系统(1)的保偏光纤耦合器(105)通过保偏光纤(104)相连接的第三光纤准直器(201),和所述第三光纤准直器(201)通过保偏光纤(104)依次连接的第三1/2波片(202),第二偏振分光立方体(204)、第三偏振片(207)以及第三光电探测器(208),所述第三1/2波片(202)和第三偏振片(207)连接在第三光电探测器(208)的一中轴线上,双频He‑Ne激光器(203)和第二偏振片(205)通过保偏光纤(104) 连接在第三光电探测器(208)的另一中轴线上,所述第二偏振片(205)通过保偏光纤(104)和第二光电探测器(206)相连接,所述第二光电探测器(206)和第三光电探测器(208)的输出端分别和频率计数器(209)的输入端相电连接。
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