[发明专利]一种超材料谐振频率测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201210052045.4 申请日: 2012-03-01
公开(公告)号: CN103293375A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 刘若鹏;栾琳;郭洁;马伟涛 申请(专利权)人: 深圳光启创新技术有限公司
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518034 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种磁性超材料谐振频率测试装置及测试方法,可以准确地测得超材料的谐振频率,实现对超材料产品参数性质的检测,还能为超材料的应用提供测试手段,进而提高超材料的研发设计效率。
搜索关键词: 一种 材料 谐振 频率 测试 装置 方法
【主权项】:
一种超材料谐振频率测试装置,其特征在于,所述谐振频率测试装置包括:交流信号源,产生频率可调的交流电信号;信号发射线圈,连接所述交流信号源的输出端,用以产生交变磁场;第一共振装置,所述第一共振装置包括第一共振线圈和第一可调电容,所述第一共振线圈与所述第一可调电容并联;第二共振装置,所述第二共振装置包括第二共振线圈和第二可调电容,所述第二共振线圈与所述第二可调电容并联,所述第一共振线圈与所述第二共振线圈的固有频率相等,所述第一共振装置和所述第二共振装置在所述交变磁场中通过共振的方式进行信号的耦合传递;信号接收线圈,与所述第二共振装置耦合并接收信号;信号检测装置,连接所述信号接收线圈用以检测所述信号接收线圈中的信号。
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