[发明专利]双谱段空间低温热像仪光学成像系统无效
| 申请号： | 201210028866.4 | 申请日： | 2012-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN102589710A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 胡斌;周峰;苏云;刘兆军;张涛;张寅生;李妥妥;吴立民;黄颖;汤天瑾 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01J5/08 | 分类号： | G01J5/08;G02B17/02;G02B1/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 双谱段空间低温热像仪光学成像系统，采用完全共用校正板、主镜、焦面校正透镜组的改进型施密特系统，偏视场使用，由两个独立的光学成像路径组合成。两组入射光线具有0°～4°夹角，分别依次到达校正板、主镜和焦面校正透镜组，最终到达两个分立的接收像面上分别成像。本系统采用消热差设计，利用共用校正板、主镜、焦面校正镜组光焦度、光学材料和结构材料的匹配，从而保证相机能够在常温条件下完成加工、装调和测试，在低温情况下进行工作。本系统具有工作温度范围宽，大视场，大相对孔径，光机结构集成度高，体积小，重量轻等优点，特别适用于对远距离的弱点目标进行探测。 | ||
| 搜索关键词： | 双谱段 空间 温热 光学 成像 系统 | ||
【主权项】：
双谱段空间低温热像仪光学成像系统，其特征在于包括：共用校正板(1)、共用主镜(2)、共用焦面校正透镜组(3)和接收像面(4)；共用校正板(1)、共用主镜(2)和共用焦面校正透镜组(3)同轴并作为光学系统的主光轴，两个不同视场的夹角为0°～4°的视场光线从左侧以主光轴为中心对称入射至由共轴的凸平正透镜(5)和弯月负透镜(6)组成的共用校正板(1)，经过共用校正板(1)透射、共用主镜(2)反射、由共轴的弯向共用主镜(2)的弯月负透镜(7)和双凸正透镜(8)组成的共用焦面校正透镜组(3)透射到达双谱段分立的接收像面(4)后各自成像。
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