[发明专利]一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210007712.7 申请日: 2012-01-11
公开(公告)号: CN103205730A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 夏洋;饶志鹏;万军;李超波;陈波;刘键;江莹冰;石莎莉;李勇滔 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及二氧化钛制备的技术领域,具体涉及一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法。所述制备方法,包括如下步骤:将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;以氮气为载气向原子层沉积设备反应腔中通入含钛源气体,含钛源气体中的钛原子吸附在硅衬底上;向原子层沉积设备反应腔中通入氮气,同时进行等离子体放电,氮气电离后部分氮原子与部分钛原子形成共价键;向原子层沉积设备反应腔中通入含氧源,未与氮原子反应的钛原子与含氧源中的氧原子形成钛氧键;重复上述步骤即可逐层生长含氮原子的二氧化钛薄膜。本发明利用ALD设备对二氧化钛薄膜进行氮掺杂,能够实现均匀的在整个结构中掺氮,且掺杂后氮元素含量高,性能显著增加。
搜索关键词: 一种 掺氮二 氧化 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤(1),将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;步骤(2),以氮气为载气向所述原子层沉积设备反应腔中通入含钛源气体,所述含钛源气体中的钛原子吸附在所述硅衬底上;步骤(3),向原子层沉积设备反应腔中通入氮气,同时进行等离子体放电,所述氮气电离后部分氮原子与部分所述钛原子形成共价键;步骤(4),向原子层沉积设备反应腔中通入含氧源,未与所述氮原子反应的钛原子与所述含氧源中的氧原子形成钛氧键;步骤(5),重复步骤(2)、(3)、(4)即可逐层生长含氮原子的二氧化钛薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210007712.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top