[发明专利]发光状况测定装置有效
| 申请号： | 201180069039.3 | 申请日： | 2011-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN103415932A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 望月学;藤森昭一;广田浩义;市川美穗 | 申请（专利权）人： | 日本先锋公司;先锋自动化设备股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L33/00 | 分类号： | H01L33/00;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;龚晓娟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种高速测定半导体发光元件的发光状况，并能够根据测定结果检查半导体发光元件的发光状况测定装置。一种发光状况测定装置（3），其接收LED（101）所发射的光，并测定发光状况，其特征在于，具有：CCD（105），其设置在LED（101）的发光中心轴上并且与LED（101）相面对的位置，用于拍摄LED（101）的发光状况；以及透镜部（123），其接收LED（101）所发射的光，并且将该光面向CCD（105）发射。透镜部（123）设置于LED（101）与CCD（105）之间并且较靠近LED（101）的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 状况 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种发光状况测定装置，其接收半导体发光元件所发射的光，并测定发光状况，其特征在于，具有：图像拍摄装置，其设置在上述半导体发光元件的发光中心轴上并且与上述半导体发光元件相面对的位置，用于拍摄上述半导体发光元件的发光状况；以及透镜部，其接收上述半导体发光元件所发射的光，并且将该光面向上述图像拍摄装置发射，上述透镜部设置于上述半导体发光元件与上述图像拍摄装置之间并且较靠近上述半导体发光元件的位置。
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