[发明专利]在触摸感应设备的初始化过程中的导电物体的探测有效
| 申请号： | 201180068802.0 | 申请日： | 2011-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN103430032A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 克里斯托弗·L·扬格 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;郑霞 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于在触摸感应设备的初始化过程中探测电容感应元件附近的导电物体的存在的方法和系统。基准感应元件被校准以产生感应参数值。基于所述感应参数值，多个电容感应元件的电容被测量，且与储存在所述触摸感应设备的非易失性存储器中的基准电容值进行比较。当所测量的电容和所存储的基准电容值之间的差值大于阈值时，探测出电容感应元件附近的导电物体的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 感应 设备 初始化 过程 中的 导电 物体 探测 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：在触摸感应设备的初始化过程中：测量基准感应元件的电容，将所述基准感应元件的所测量的电容与目标测量输出值相比较，以及校准所述基准感应元件的电容测量值，以产生感应参数值；将多个电容感应元件的每一个的基于所述感应参数值测量的电容与所述多个电容感应元件的每一个的基准电容值进行比较，以确定电容差值；以及当所述电容感应元件的所述电容差值大于阈值时，探测到电容感应元件附近的导电物体的存在。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛普拉斯半导体公司，未经赛普拉斯半导体公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180068802.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
