[发明专利]放电加工装置及放电加工系统有效
申请号: | 201180068326.2 | 申请日: | 2011-02-24 |
公开(公告)号: | CN103391827A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 渡边浩太郎;千田慎吾 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | B23H7/26 | 分类号: | B23H7/26 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了对应于安装场所的环境温度而进行效果尽可能好的校正,放电加工装置(100)具有:温度·位移测定部(31),其测定基准位置的位移量的变迁及温度传感器(18a至18c)的检测值的变迁;校正系数计算部(32),其基于温度·位移测定部(31)的测定结果计算校正系数计算值(43);确认显示部(33),其显示温度·位移测定部(31)的测定结果,并提示进行表示是否使用校正系数计算值(43)的输入;以及变更同意确认部(35),其在接受到表示使用校正系数计算值(43)的输入时,利用校正系数计算值(43)对校正系数设定值存储部(34)所存储的校正系数设定值(41)进行更新。 | ||
搜索关键词: | 放电 加工 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种放电加工装置,其能够进行加工位置的定位控制,该放电加工装置的特征在于,具有:温度传感器,其检测环境温度;指令值计算部,其计算加工位置所涉及的指令值;设定值存储部,其存储校正系数设定值;指令值校正部,其基于所述温度传感器的检测值和所述设定值存储部所存储的校正系数设定值而推定基准位置的位移量,使用所述推定的位移量,对由所述指令值计算部计算出的指令值进行校正;以及校正部,其对所述设定值存储部所存储的校正系数设定值进行校正,所述校正部具有:测定部,其测定基准位置的位移量的变迁及所述温度传感器的检测值的变迁;校正系数计算部,其基于所述测定部的测定结果计算校正系数计算值;确认显示部,其显示所述测定部的测定结果,并且提示进行表示是否使用所述校正系数计算值的输入;以及设定变更部,其在接受到表示使用所述校正系数计算值的输入时,利用所述校正系数计算值对所述设定值存储部所存储的校正系数设定值进行更新。
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