[发明专利]四极型质量分析装置有效
| 申请号: | 201180067394.7 | 申请日: | 2011-02-10 |
| 公开(公告)号: | CN103370766A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
| 发明(设计)人: | 水谷司朗 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;G01N27/62 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 对于对四极滤质器(2)的各电极(2a~2d)施加电压的四极电源部,除了输入与目标离子的m/z相应的电源控制器电压Qcont之外,还输入m/z轴校正系数Mcomp1和V电压校正系数Vcomp1。Vcomp1是频率变化的倍率的倒数,Mcomp1是频率变化的倍率的平方。在检波增益调整部(4C)中,乘法器(421)将Vcomp1乘以V电压调整用放大器(405)的输出Vdet′,即使为了使LC谐振电路调谐而改变信号发生器(411)的设定频率,也能使从高频电源部(4A)输出的高频电压保持固定。另外,在高频电源部中,乘法器(420)将Mcomp1乘以Qcont,即使设定频率改变也能够维持用于质量选择的最佳电压。由此,即使为了调谐而调整设定频率,也能够自动维持高的质量分辨率和质量精度。 | ||
| 搜索关键词: | 四极型 质量 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种四极型质量分析装置,具备:四极滤质器,其包括多个电极;四极电源,其为了使具有特定的质量电荷比的离子选择性地通过上述四极滤质器而将规定的电压施加给该四极滤质器的各电极;以及控制单元,其向上述四极电源指示与作为测量对象的离子的质量电荷比相应的目标电压,其中,上述四极电源具有:检波单元,其对施加于上述四极滤质器的高频电压进行直流检波;检波输出调整单元,其对由该检波单元产生的检波输出的增益进行调整;高频电源,其包括生成频率可变的高频信号的信号生成单元,并输出高频电压,该高频电压具有基于上述检波输出调整单元的输出与上述目标电压的比较而得到的振幅,且具有与上述高频信号的频率相同或者成比例的频率;直流电源,其基于上述检波输出调整单元的输出来输出直流电压;以及叠加单元,其将由该直流电源产生的直流电压和由上述高频电源产生的高频电压相叠加,上述四极电源通过包括上述四极滤质器的电极间的寄生电容而形成的LC谐振电路使由上述叠加单元叠加得到的高频电压增大并施加给上述四极滤质器,并且调整上述高频信号的频率,由此使上述LC谐振电路调谐,该四极型质量分析装置的特征在于,在上述四极电源中,上述检波输出调整单元包括:放大单元,其以不取决于上述高频信号的频率的固定的增益来放大电压;以及第一校正单元,其在为了调谐而使上述高频信号的频率从标准频率起变化时,在上述放大单元的输入级或者输出级与频率变化的倍率相应地校正电压,使得施加给上述四极滤质器的高频电压的振幅固定,上述四极电源还具有第二校正单元,该第二校正单元在为了调谐而使上述频率变化时,与该频率变化的倍率的平方相应地校正上述目标电压。
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