[发明专利]用于包括反射能力的高性能放射线摄影成像阵列的装置和方法有效
申请号: | 201180063643.5 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN103270595A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | T.J.特雷威尔 | 申请(专利权)人: | 卡尔斯特里姆保健公司 |
主分类号: | H01L27/14 | 分类号: | H01L27/14;H01L27/146 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郑冀之;王忠忠 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 根据本发明的方法/装置的实施方案可包括放射线摄影成像器件,其包括成像像素阵列或多个光传感器,所述光传感器包括第一侧来从闪烁器接收光,且包括第二侧来响应于所述闪烁器光的照射而使第二光穿过,并且包括反射层,其被构造成响应于所述第二光的照射来反射第三光。示例性的光传感器可吸收通过第一透明侧接收的规定量的闪烁器光和通过第二透明侧接收的第三光。示例性的反射配置可基于闪烁器发射特性和/或光传感器吸收特性来选择。放射线摄影检测器阵列和方法的实施方案可减小光传感器厚度来减小噪音、减少成像滞后和/或提高电荷容量。实施方案可维持减小厚度的光传感器的量子效率。 | ||
搜索关键词: | 用于 包括 反射 能力 性能 放射线 摄影 成像 阵列 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种放射线摄影成像装置,其包括:闪烁器;多个感光元件,其包括第一侧来从所述闪烁器接收第一光,且包括第二侧来响应于所述第一光的照射而使第二光穿过;反射层,其从所述多个感光元件接收所述第二光并且被构造成响应于所述第二光的照射来反射第三光;和基板,其在所述多个感光元件的所述第二侧上,其中所述多个感光元件的感光元件特性被选择来吸收通过所述第一侧接收的规定量的所述第一光和通过所述第二侧接收的所述第三光,其中所述反射层的反射率大于50%。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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