[发明专利]玻璃带内缺陷测定方法和玻璃带内缺陷测定系统

摘要

本发明提供一种玻璃带内缺陷测定方法，即使在玻璃带的界面附近存在缺陷的情况、缺陷大的情况下也能够测定玻璃带内的缺陷的高度方向位置。从通过对被传送的玻璃带进行拍摄所得到的图像中确定互相重叠的两个像的外接矩形。然后计算与外接矩形的边(24)对应的在真实空间中的长度(h)。另外，计算图像内的从像(21)的中心部分(21a)到靠近侧的短边的距离所对应的在真实空间中的长度，计算其两倍的长度(s)。然后，通过计算h-s，求出从拍摄了第一个像的位置到拍摄了第二个像的位置的缺陷的移动距离(yd)，根据(yd)和折射角(β)计算缺陷的高度方向位置。

主权项

一种玻璃带内缺陷测定方法，其特征在于，包括以下步骤：拍摄步骤，从光源向被传送的玻璃带照射光，通过被配置于在上述玻璃带反射的光所到达的位置处的拍摄单元来对上述玻璃带进行拍摄；以及运算步骤，根据通过上述拍摄单元拍摄到的图像内的、由上述玻璃带的同一缺陷引起的互相重叠且具有上述缺陷的种类所固有的形状的两个像的位置关系，来计算上述缺陷在上述玻璃带内的高度方向位置。