[发明专利]负型图案形成方法及抗蚀剂图案有效

专利信息
申请号: 201180057434.X 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN103229102A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 加藤启太;藤井佳奈;上村聪;岩户薰 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G03F7/038 分类号: G03F7/038;G03F7/039;G03F7/32;H01L21/027
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 日本东京港区*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种负型图案形成方法,包含:(i)由化学增幅型抗蚀剂组成物形成膜厚度为大于或等于200纳米的膜,所述化学增幅型抗蚀剂组成物含有(A)树脂、(B)化合物以及(C)溶剂,其中所述树脂(A)能够藉由酸的作用提高树脂(A)的极性而使树脂(A)对含有一或多种有机溶剂的显影剂的溶解性降低,所述化合物(B)能够在用光化射线或辐射照射后产生酸;(ii)使所述膜曝光从而形成经曝光的膜;以及(iii)用含有一或多种有机溶剂的显影剂使经曝光的膜显影。
搜索关键词: 图案 形成 方法 抗蚀剂
【主权项】:
一种负型图案形成方法,包括:(i)由化学增幅型抗蚀剂组成物形成膜厚度为大于或等于200纳米的膜,所述化学增幅型抗蚀剂组成物含有(A)树脂、(B)化合物以及(C)溶剂,其中所述树脂(A)能够藉由酸的作用提高所述树脂(A)的极性而使所述树脂(A)对含有一或多种有机溶剂的显影剂的溶解性降低,所述化合物(B)能够在用光化射线或辐射照射后产生酸;(ii)使所述膜曝光,从而形成经曝光的膜;以及(iii)用所述含有一或多种有机溶剂的显影剂使所述经曝光的膜显影。
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