[发明专利]量子产率测定装置有效
| 申请号： | 201180057392.X | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN103250045A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 井口和也 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 量子产率测定装置(1A)通过将激发光(L1)照射至用以容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，且检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一者放出的被测定光(L2)，从而测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1A)具有：在内部配置有试料容纳部(3)的暗箱(5)；具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，且产生激发光(L1)的光产生部(6)；具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)的光检测部(9)；具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)、且配置于暗箱(5)内的积分球(14)；及以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使试料容纳部(3)、光出射部(7)及光入射部(11)移动，并在第1状态，使光出射部(7)与光入射开口(15)相对，且使光入射部(11)与光出射开口(16)相对的移动机构(30)。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种量子产率测定装置，其特征在于，通过将激发光照射至用以容纳试料的试料管的试料容纳部，并检测自所述试料及所述试料容纳部的至少一者放出的被测定光，从而测定所述试料的量子产率，具备：暗箱，在内部配置有所述试料容纳部；光产生部，具有连接于所述暗箱的光出射部，并产生所述激发光；光检测部，具有连接于所述暗箱的光入射部，并检测所述被测定光；积分球，具有使所述激发光入射的光入射开口、及使所述被测定光出射的光出射开口，且配置于所述暗箱内；及移动机构，以成为所述试料容纳部位于所述积分球内的第1状态、及所述试料容纳部位于所述积分球外的第2状态的各自的状态的方式，使所述试料容纳部、所述光出射部、及所述光入射部移动，并在所述第1状态，使所述光出射部与所述光入射开口相对，且使所述光入射部与所述光出射开口相对。
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