[发明专利]半导体元件用外延基板、半导体元件用外延基板的制造方法、以及半导体元件无效
申请号: | 201180043385.4 | 申请日: | 2011-08-19 |
公开(公告)号: | CN103109351A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 三好实人;市村干也;前原宗太;田中光浩 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/34;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;洪玉姬 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种将硅基板作为基底基板、低位错且无裂纹的外延基板。一种外延基板,在(111)单晶硅基板上,以(0001)结晶面与基板面大致平行的方式形成III族氮化物层组,所述外延基板具有由多个基底层层叠而成的基底层组,所述基底层分别包括由AlN构成的第一III族氮化物层、和在第一III族氮化物层上形成的、由AlyyGazzN构成的第二III族氮化物层构成。第一III族氮化物层为多结晶含有缺陷层,第一和第二III族氮化物层的界面呈三维凹凸面,并且,在多个基底层中,构成基底基板正上方以外的基底层的第一III族氮化物层的厚度为50nm以上且100nm以下,第二III族氮化物层满足0≦yy≦0.2。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 外延 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种半导体元件用外延基板,在由(111)取向的单晶硅所组成的基底基板上,以(0001)结晶面与所述基底基板的基板面大致平行的方式形成III族氮化物层组,其特征在于,所述外延基板具有:基底层组,其在所述基底基板上形成,并由多个基底层重复层叠而成,所述基底层分别包括由AlN构成的第一III族氮化物层,和在所述第一III族氮化物层上形成、且由AlyyGazzN构成的第二III族氮化物层,其中y、z满足yy+zz=1、0≦yy<1、0<zz≦1,在所述基底层组上外延形成的至少一个第三III族氮化物层;所述第一III族氮化物层是由柱状或粒状的结晶或畴体中的至少一种构成的多结晶含有缺陷层;所述第一III族氮化物层和所述第二III族氮化物层的界面是三维凹凸面;在所述多个基底层中,将在所述基底基板的正上方形成的基底层作为第一基底层,并将所述第一基底层以外的基底层作为第二基底层时,构成所述第二基底层的所述第一III族氮化物层的厚度在50nm以上且100nm以下,所述第二III族氮化物层由AlyyGazzN构成,其中y、z满足yy+zz=1、0≦yy≦0.2、0.8≦zz≦1。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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