[发明专利]用于验证非易失性存储设备的方法及装置在审
| 申请号： | 201180043335.6 | 申请日： | 2011-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN103098064A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 姜甫暻;李炳来 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F21/10 | 分类号： | G06F21/10;G06F21/34;H04L9/32 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李琳 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了用于验证非易失性存储设备的方法及装置。该方法包括：由用于验证存储设备的EMID解码器向存储设备发送对于用于识别存储设备的增强的媒体标识（EMID）的请求；从存储设备接收所请求的通过以可选值对EMID进行预先设定的计算而改变的EMID；以及通过解码接收到的改变后的EMID来恢复EMID。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 验证 非易失性 存储 设备 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于验证非易失性存储设备的方法，该方法包括：由用于验证存储设备的增强的媒体标识（EMID）解码器向存储设备发送对于用于识别存储设备的EMID的请求；从存储设备接收所请求的通过以可选值对EMID进行预先设定的计算而改变的EMID；以及通过解码接收到的改变后的EMID来恢复EMID。
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