[发明专利]用于增强局部电场、光吸收、光辐射、材料检测的结构以及用于制作和使用此结构的方法有效
| 申请号： | 201180035425.0 | 申请日： | 2011-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN103026298A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 斯蒂芬·Y.·周;李文迪 | 申请（专利权）人： | 普林斯顿大学 |
| 主分类号： | G03F7/00 | 分类号： | G03F7/00;G01N27/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 周晓雨;俞波 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了微米结构和纳米结构（100），其由基片（110）、以金属碟（130）盖顶的柱体（120）的阵列、敷设在柱体的侧壁上的金属点（簇群或颗粒）（140）以及金属背板（150）组成，其能够相互作用以增强局部电场、光的吸收和光的辐射。还公开了制造结构（100）的方法。还公开了增强结构表面上的分子和其他材料的检测中的光信号（如荧光、光致发光和表面增强拉曼散射（SERS））的结构的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 增强 局部 电场 光吸收 光辐射 材料 检测 结构 以及 制作 使用 方法 | ||
【主权项】：
一种用于利用增强结构（100）增强物质的特性的检测的方法，其包括：将所述物质置于所述增强结构（100）附近或与之接触；利用光照射所述物质和/或所述增强结构（100）；检测从所述物质辐射的光；以及其中所述增强结构（100）由如下组成·基片（110）；·从所述基片（110）的表面延伸的至少一个纳米柱体（120）；·位于每个所述柱体（120）的顶部上的纳米级金属碟（130）；·位于每个所述柱体的底部的金属背板（150），所述金属背板覆盖所述基片表面的大部分；以及·位于每个所述柱体的外部垂直表面（120s）上的至少一个纳米级金属点结构（140）。
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