[发明专利]光学信息记录介质的记录和再现方法无效

专利信息
申请号: 201180034486.5 申请日: 2011-06-27
公开(公告)号: CN103003878A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 佐佐木俊央;望月英宏;北原淑行 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 丁业平;常海涛
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种光学信息记录介质的记录和读出方法,该光学信息记录介质包括:记录层14,该记录层14的厚度等于或大于2λ/n,并且被设计为通过记录光束RB的照射而发生折射率的变化,其中λ为该记录光束RB的波长,n为所述记录层14的折射率;以及邻接层(中间层13),该邻接层设置在与所述记录光束进入所述记录层的入射侧相对的一侧,所述方法包括以下步骤:在记录信息时,用记录光束RB照射光学信息记录介质,同时使焦点位置以偏移量d由所述记录层14与所述邻接层间的界面18向所述入射侧移动,由此使记录位置处的所述记录层14的折射率发生变化,从而对记录点M进行记录,其中所述偏移量d满足ω0<d<3ω0,其中ω0为将要记录于所述记录层14中的记录点的半径;以及通过使用读出光束照射所述光学信息记录介质,同时使该读出光束聚焦于所述界面18,从而读取所述信息。
搜索关键词: 光学 信息 记录 介质 再现 方法
【主权项】:
一种在光学信息记录介质中记录信息并随后由该光学信息记录介质读取信息的方法,该介质包括:记录层,该记录层的厚度等于或大于2λ/n,并且被设计为通过记录光束的照射而发生折射率的变化,其中λ为该记录光束的波长,n为所述记录层的折射率;以及邻接层,该邻接层设置在与所述记录光束进入所述记录层的入射侧相对的一侧,所述方法包括以下步骤:在记录信息时,用所述记录光束照射所述光学信息记录介质,同时使焦点位置以偏移量d由所述记录层与所述邻接层间的界面向所述入射侧移动,由此使记录位置处的所述记录层的折射率发生变化,从而对记录点进行记录,其中所述偏移量d满足ω0<d<3ω0,其中ω0为将要记录于所述记录层中的记录点的半径;以及通过使用读出光束照射所述光学信息记录介质,同时使该读出光束聚焦于所述界面,从而读取所述信息。
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