[发明专利]用于气体化合物的紫外光谱分析的装置

摘要

本发明涉及一种用于气体化合物的紫外光谱分析的装置（20），包括：容纳样本气体的气流的测量通道（5）；窗口（16），所述窗口（16）布置在测量通道（5）的第一端部（5a）处并且对于紫外辐射是可透射的；辐射源（11），所述辐射源（11）生成紫外辐射并且被布置为通过窗口（16）将辐射发射到测量通道（5）中；以及光谱仪（3），所述光谱仪（3）在测量通道（5）的第二相对端部（5b）处用于测量紫外辐射。本发明的特征在于所述光谱仪（3）设置有开口（12），其中测量通道（5）的第二端部（5b）朝向光谱仪（3）开放，以使得测量通道（5）和光谱仪（3）的内部经由所述开口（12）连通。光谱仪（3）填充有保护气体，所述保护气体被允许流过所述开口（12）并流入到测量通道（5）中。

主权项

一种用于气体化合物的紫外光谱分析的装置（20），所述装置（20）包括：‑测量通道（5），所述测量通道（5）旨在容纳待分析的样本气体的气流，‑窗口部件（16），所述窗口部件（16）布置在所述测量通道（5）的第一端部（5a）处，并且对于紫外辐射是可透射的，‑辐射源（11），所述辐射源（11）能够生成紫外辐射，并且被布置为将辐射发射通过所述窗口部件（16）且发射到所述测量通道（5）中，‑光谱部件（3），所述光谱部件（3）布置在所述测量通道（5）的第二相对端部（5b）处，并且用于测量由所述辐射源（11）发射的紫外辐射，其中所述装置（20）被布置为使得在所述第一端部（5a）处进入所述测量通道（5）的紫外辐射能够传播通过所述测量通道（5）、与所容纳的气体反应并且由在所述测量通道（5）的所述第二端部（5b）处的所述光谱部件（3）测量，其特征在于，所述光谱部件（3）设置有开口（12），在所述装置（20）的操作期间紫外辐射通过所述开口（12）进入所述光谱部件（3），其中所述测量通道（5）的所述第二端部（5b）朝向所述光谱部件（3）开放，以使得所述测量通道（5）和所述光谱部件（3）的内部经由所述开口（12）连通，其中所述光谱部件（3）被布置为填充有保护气体，并且其中所述装置（20）被布置为使得允许馈送到所述光谱部件（3）的保护气体流过所述开口（12）并流入到所述测量通道（5）中。