[发明专利]Janus状的铁-硅氧化物颗粒有效
申请号: | 201180016892.9 | 申请日: | 2011-03-10 |
公开(公告)号: | CN102834357A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | M·哈格曼;C·舒尔策伊斯福特;O·克洛茨;N·舒哈特;R·戈尔凯尔特 | 申请(专利权)人: | 赢创德固赛有限公司 |
主分类号: | C01G49/00 | 分类号: | C01G49/00;C09C1/24 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 于辉 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及铁-硅氧化物颗粒,其a)包含以球形和/或椭球形形式的那些颗粒,所述颗粒具有两部分,一部分基本由无定形二氧化硅组成,并且另一部分基本上由铁氧化物组成,b)在利用具有CuKα辐射、40kV的电压U和40mA的电流强度I的衍射仪产生的X-射线衍射图案中,它们显示出b1)反射1,其最大信号高度1在衍射角2θ为32-34°处,和b2)反射2,其最大信号高度2在衍射角2θ为34.5-36.5°处,并且b3)q=0.2-20,其中q定义为最大信号高度2/最大信号高度1。 | ||
搜索关键词: | janus 氧化物 颗粒 | ||
【主权项】:
铁‑硅氧化物颗粒,其特征在于a)它们包含以球形和/或椭球形形式的所述颗粒,所述颗粒具有两部分,一部分基本由无定形二氧化硅组成,并且另一部分基本上由铁氧化物组成,b)在利用具有CuKα辐射、40kV的电压U和40mA的电流强度I的衍射仪产生的X‑射线衍射图案中,它们显示出b1)反射1,其最大信号高度1在衍射角2θ为32‑34°处,和b2)反射2,其最大信号高度2在衍射角2θ为34.5‑36.5°处,以及b3)q=0.2‑20,其中q定义为最大信号高度2/最大信号高度1。
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