[发明专利]半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件无效

专利信息
申请号: 201180007356.2 申请日: 2011-01-20
公开(公告)号: CN102741981A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 山崎裕久 申请(专利权)人: 株式会社日立国际电气
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L21/31;H01L21/316
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;孟祥海
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件。实现具有高介电常数且在高温状态下稳定的电容绝缘膜的形成。所述半导体器件的制造方法通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使第一原料吸附于在基板的表面上;在使第一原料进行吸附之后,向处理室供给包含第二元素的第二原料,使第二原料吸附在基板的表面上;向处理室供给包含第三元素的第三原料,来对基板的表面进行改性;以及去除处理室内的环境气体,其中,相对于吸附在基板的表面上的第一原料的饱和吸附量,调整第一原料的吸附量和第二原料的吸附量,由此控制膜中的第二元素的含有量。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法 处理 装置 以及
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,其通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括如下步骤:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使上述第一原料吸附在上述基板的表面上的步骤;在使上述第一原料吸附之后,向上述处理室供给包含第二元素的第二原料,使上述第二原料吸附在上述基板的表面上的步骤;向上述处理室供给包含第三元素的第三原料,来对上述基板的表面进行改性的步骤;以及去除上述处理室内的环境气体的步骤,在该半导体器件的制造方法中,相对于吸附在上述基板的表面上的上述第一原料的饱和吸附量,调整上述第一原料的吸附量和上述第二原料的吸附量,由此控制上述膜中的第二元素的含有量。
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