[发明专利]电容式感测阵列中的准确度的改进有效
申请号: | 201180002772.3 | 申请日: | 2011-09-28 |
公开(公告)号: | CN103124952A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 潘涛;葛瑞格·兰德利 | 申请(专利权)人: | 赛普拉斯半导体公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;G06F3/041;G06F3/03 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;郑霞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种被配置来改进检测传导性物体的存在性时的准确度的电容式感测阵列。在一个实施例中,所述电容式感测阵列包括具有多个子部分的第一组感测元件以及具有多个子部分的第二组感测元件,使得所述第一组感测元件中的一个感测元件的多个子部分跨坐在所述第二组感测元件中的至少两个感测元件的多个子部分中的至少一个子部分上。本发明中定义的跨坐包括移动一个感测元件的子部分,并将该子部分与和该一个感测元件相邻的至少两个感测元件的子部分交错。 | ||
搜索关键词: | 电容 式感测 阵列 中的 准确度 改进 | ||
【主权项】:
一种电容式感测阵列,所述阵列包括:第一组感测元件,包括多个子部分;以及第二组感测元件,包括多个子部分,其中所述第一组感测元件中的一个感测元件的多个子部分跨坐在所述第二组感测元件中的至少两个感测元件的多个子部分中的至少一个子部分上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛普拉斯半导体公司,未经赛普拉斯半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180002772.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。