[发明专利]非易失性存储单元、非易失性存储单元阵列、以及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201180002654.2 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102473707A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 魏志强;高木刚;饭岛光辉 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;G11C13/00;H01L45/00;H01L49/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 包括:以与衬底平行,由第一导电层(13)、半导体层(17)和第二导电层(18)构成的层叠体(21)与层间绝缘膜(16)交替层叠的层叠结构;被配置为在层叠方向上贯通所述层叠结构的多个柱状电极(12);以及,根据被施加到柱状电极(12)与第一导电层(13)之间的电信号而发生电阻值的可逆变化的电阻变化层(14),电阻变化层(14)是第一导电层(13)的一部分被氧化而形成的。通过一个氧化工艺,在形成电阻变化层(14)的同时,形成用于使半导体层(17)、第二导电层(18)分别与柱状电极(12)电分离的绝缘膜。
搜索关键词: 非易失性 存储 单元 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储单元,包括:柱状电极,被配置为与衬底主面垂直;第一导电层,被配置为与所述衬底主面平行;半导体层,被配置为在层叠方向上与所述第一导电层接触;第二导电层,被配置为在层叠方向上与所述半导体层接触;电阻变化层,被设置在所述柱状电极与所述第一导电层之间,且根据被施加的电信号而发生电阻值的可逆变化;氧化物绝缘层,被设置在所述柱状电极与所述半导体层之间,且具有与所述半导体层相同的母体元素;以及绝缘层,被设置在所述柱状电极与所述第二导电层之间。
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