[实用新型]芯片测试机上的打标结构有效
| 申请号： | 201120455710.5 | 申请日： | 2011-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN202388955U | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 金英杰 | 申请（专利权）人： | 金英杰 |
| 主分类号： | B41J3/44 | 分类号： | B41J3/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试领域，尤其是一种芯片测试机上的打标结构。包括一与芯片测试机进行固定安装的垂直基板，所述的基板上安装一排受芯片测试机控制的汽缸，所述的每个汽缸驱动一打标笔进行打标。本实用新型的打标结构通过汽缸驱动打标笔对经过芯片测试机测试过的芯片进行打标，通过打标的数量来标识芯片的检测结构，取代了以往人工打标的操作方式，提高了打标工序的操作效率，进而提高了批量芯片检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种芯片测试机上的打标结构，其特征在于：包括一与芯片测试机进行固定安装的垂直基板，所述的基板上安装一排受芯片测试机控制的汽缸，所述的每个汽缸驱动一打标笔进行打标。
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