[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的校准模块有效

专利信息
申请号: 201120444553.8 申请日: 2011-11-10
公开(公告)号: CN202330684U 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 李杰;张东;马新国 申请(专利权)人: 北京自动测试技术研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的校准模块,包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵和精密电阻矩阵。其中,主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接配置存储器和继电器矩阵;配置存储器连接在主控制器和继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序;继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接精密电阻矩阵。本校准模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合,自动完成相关数字测试系统的校准、自检和计量工作,校准精度高,操作方便。
搜索关键词: 一种 用于 vxi 总线 数字 测试 系统 校准 模块
【主权项】:
一种用于VXI总线数字测试系统的校准模块,其特征在于:所述校准模块包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵和精密电阻矩阵;其中,所述主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接所述配置存储器和所述继电器矩阵;所述配置存储器连接在所述主控制器和所述继电器矩阵之间,用于存储校准、自检和计量的配置程序;所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪,另一方面连接所述精密电阻矩阵。
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