[实用新型]FTIR分析检测仪光路保护装置有效
| 申请号： | 201120301350.3 | 申请日： | 2011-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN202204765U | 公开（公告）日： | 2012-04-25 |
| 发明（设计）人： | 宋津京;郝俊胜 | 申请（专利权）人： | 三星高新电机（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/15 | 分类号： | G01N21/15 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 闫俊芬 |
| 地址： | 300385 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种能够有效的防止灰尘进入光路底部的聚光镜，避免对透射检测造成影响，提高了准确性及减少仪器故障的FTIR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体，聚光镜位于显微主体上，显微主体上方一定距离设置有放置样品的固定台，光路位于显微主体与固定台之间，其特征在于：所述显微主体与固定台之间还设置有防尘罩，光路位于该防尘罩中。采用本实用新型结构的FTIR分析检测仪光路保护装置，能够更好地确保光路通透，有效地防止灰尘进入，使光路底部的聚光镜保持清洁，对透射样品有良好的照明作用，提高样品检测的准确性，减少因灰尘挡住聚光镜而引起的仪器故障。 | ||
| 搜索关键词： | ftir 分析 检测 仪光路 保护装置 | ||
【主权项】：
一种FTIR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体，聚光镜位于显微主体上，显微主体上方一定距离设置有放置样品的固定台，光路位于显微主体与固定台之间，其特征在于：所述显微主体与固定台之间还设置有防尘罩，光路位于该防尘罩中。
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