[实用新型]金属均匀性测量的简易定位片有效

专利信息
申请号: 201120213077.9 申请日: 2011-06-22
公开(公告)号: CN202126232U 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 陆通贵;陈家逢;邓峻 申请(专利权)人: 深圳市崇达电路技术股份有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 代理人: 胡吉科;罗志强
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及简易定位片,尤其涉及一种金属均匀性测量的简易定位片。本实用新型提供了一种金属均匀性测量的简易定位片,包括主体板,所述主体板上设有定位孔,所述定位孔至少有二个并均匀分布在所述主体板上。本实用新型的有益效果是:可通过均匀分布在主体板上的定位孔来定位测量点,有利于提高测量的准确度。
搜索关键词: 金属 均匀 测量 简易 定位
【主权项】:
一种金属均匀性测量的简易定位片,其特征在于:包括主体板(1),所述主体板(1)上设有定位孔(11),所述定位孔(11)至少有二个并均匀分布在所述主体板(1)上。
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