[实用新型]一种气溶胶颗粒分析仪的自动校正系统有效
| 申请号： | 201120159018.8 | 申请日： | 2011-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN202057569U | 公开（公告）日： | 2011-11-30 |
| 发明（设计）人： | 刘毅;刘航;刘强;张晓清;刘爱明 | 申请（专利权）人： | 北京汇丰隆经济技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;张爱莲 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种气溶胶颗粒分析仪的自动校正系统，包括：检测单元，其与气溶胶颗粒分析仪的紫外光路单元连接，用以检测散射光、荧光、校正光的强度信号；以及补偿处理单元，其与检测单元连接，其将所述的校正光的强度信号与一标定初值进行偏差运算以获得灵敏度偏差值，并根据该偏差值自动调整所述的散射光及荧光的强度增益。本实用新型用以解决激光光源的能量起伏、光路偏移发生的检测功率变化、光源长时间使用导致的激光发射功率下降以及仪器使用环境温度不同造成的检测结果摆动等原因造成的最终测量结果误差问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 气溶胶 颗粒 分析 自动 校正 系统 | ||
【主权项】：
一种气溶胶颗粒分析仪的自动校正系统，其特征在于，包括：检测单元，其与所述的气溶胶颗粒分析仪的紫外光路单元连接，所述的检测单元用以检测散射光、荧光、校正光的强度信号；以及补偿处理单元，其与所述的检测单元连接，所述的补偿处理单元将所述的校正光的强度信号与一标定初值进行偏差运算以获得灵敏度偏差值，并根据所述的偏差值自动调整所述的散射光及荧光的强度增益。
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