[实用新型]晶体谐振器测试机构有效
申请号: | 201120002715.2 | 申请日: | 2011-01-06 |
公开(公告)号: | CN201945666U | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | 李向前;付玉磊;付廷喜;刘金波;李金全;刘广 | 申请(专利权)人: | 天津伍嘉联创科技发展有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/073 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 王丽英 |
地址: | 300451 天津市塘沽区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了晶体谐振器测试机构,它包括缓冲定位机构和测试固定机构,缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边,在凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块,在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔,在位于凹槽挡边的两测各连接有一个导杆,测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板,在弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板,在第二凹槽内装有探针板、探针固定板,探针座,探针座上插有多个探针每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内。采用本装置可以确保晶体测试前的定位准确,保证测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 晶体 谐振器 测试 机构 | ||
【主权项】:
晶体谐振器测试机构,其特征在于:它包括缓冲定位机构和测试固定机构,所述的缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边,在所述凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块,在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔,在位于凹槽挡边两侧各连接有一个导杆,在每个导杆下部安装有一个弹簧挡环,在弹簧挡环下方的每个导杆上装有一个弹簧,所述的测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板,在所述的弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板,在所述的测试托板上设置有用于与其它机构相连接的测试托板底板,在第二凹槽内装有探针板,在所述的探针板上固定有探针固定板,探针座穿过探针固定板并与探针板固定相连,在所述的探针座上插有多个探针,在第二凹槽两侧的测试托板上分别安装有两个直线轴承,每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内,所述的弹簧的底面压在位于导杆过孔处的弹簧板上,挡边间隔的设置在多个探针的上方并且多个探针能够一一对应的插在多个一体测试块的探针孔内。
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