[发明专利]基于图像处理的磁粉探伤缺陷智能识别检测系统无效

专利信息
申请号: 201110450758.1 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN102590330A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 施光莹;李千目 申请(专利权)人: 南京理工大学常熟研究院有限公司;南京理工大学
主分类号: G01N27/84 分类号: G01N27/84
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 215513 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于图像处理的磁粉探伤缺陷智能识别检测系统,该系统中集成了通信模块、CCD摄像机、CCD控制模块、裂纹识别模块、图像处理模块、图像报警终端以及存储,CCD摄像机采集工件表面图像,存储在存储卡中,图像处理模块对存储卡中的图像进行分割、缺陷识别处理和存储,并将工件表面的缺陷信息传递给裂纹识别模块;裂纹识别模块把工件表面的缺陷信息反馈给图像报警终端,完成最后的显示报警。本发明通过对分割算法的改进,很好的解决了系统遇到的诸如运动引起的成像模糊、成像区域选择、伪裂纹信号引起虚警等问题。
搜索关键词: 基于 图像 处理 探伤 缺陷 智能 识别 检测 系统
【主权项】:
一种基于图像处理的磁粉探伤缺陷智能识别检测系统,其特征在于:包括通信模块[1]、CCD摄像机[2]、CCD控制模块[3]、裂纹识别模块[5]、图像处理模块[6]、图像报警终端[7]以及第一存储卡Memory[8] 、第二存储卡Memory[9];通信模块[1]的一端与外部的转台控制系统连接,另一端与CCD摄像机[2]连接,开机运行后,待初始化调整CCD摄像机[2]的参数后,通过CCD摄像机[2]采集工件表面图像,采集的图像数据存储在第一存储卡Memory[8]中,图像处理模块[6]对第一存储卡Memory[8]中的图像进行分割和缺陷识别处理,处理结果存储在第二存储卡Memory[9]中,并将工件表面的缺陷信息传递给裂纹识别模块[5];裂纹识别模块[5]把工件表面的缺陷信息反馈给图像报警终端[7],完成最后的显示报警。
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