[发明专利]基于可旋转波片的Mueller矩阵测试装置和方法

摘要

本发明涉及一种基于可旋转波片实现光学器件Mueller矩阵的测试装置和方法。测试系统由激光器、偏振发生器、被测器件、偏振分析仪、电压控制器和计算机构成。由激光器产生的光进入偏振发生装置，偏振发生装置由起偏器加可旋转波片构成,波片旋转角度大于180度,波片旋转由电压控制,不同控制电压下,偏振发生器产生不同偏振态输出。由偏振发生器输出的光进入被测器件，被测器件输出的光直接进入偏振分析仪，由偏振分析仪测出在不同控制电压时，相应的偏振发生器的输出偏振态和被测器件的输出偏振态的Stokes参数。之后建立起由测得的输入输出偏振态参数与被测器件的Mueller矩阵参数之间的线性系统方程，再由计算机求解该系统方程，即可解出Mueller矩阵的16个参数。

主权项

一种基于可旋转波片的Mueller矩阵测量装置， 包括激光器（1）、偏振发生器（2）、被测器件（3）、偏振分析仪（4）、电压控制器（5）和计算机（6），其特征在于：所述激光器（1）的输出光经过所述的偏振发生器（2）后，输出到被测器件（3）,被测器件（3）的输出连接到所述的偏振分析仪（4），所述的偏振发生器（2）和电压控制器（5）相连，所属偏振分析仪（4）和电压控制器（5）与所述计算机（6）相连；由激光器(1)产生的光进入偏振发生器（2），偏振发生器的输出偏振态随偏振发生器（2）的控制电压的变化而变；偏振发生器（2）的输出光进入被测器件（3），之后光直接进入偏振分析仪（4），进行偏振态Stokes参数测量， 偏振发生器（2）的电压控制器（5）为偏振发生器（2）的旋转装置提供转动控制电压，并将控制电压参数送至计算机（6）；计算机（6）用于接收偏振分析仪（4）的测量结果和电压控制器（5）的电压参数，根据相应的系统方程和优化算法，求解被测器件的Mueller矩阵参数。