[发明专利]一种星载差分吸收光谱仪的光学系统有效
| 申请号: | 201110406650.2 | 申请日: | 2011-12-07 |
| 公开(公告)号: | CN102519595A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
| 发明(设计)人: | 刘文清;江宇;相连钦;司福祺;江庆五;薛辉;谢品华;刘建国 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42;G01J3/02;G01N21/33;G02B27/10;G02B7/182;G02B17/06;G02B1/10;G02B1/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
| 地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | 一种星载差分吸收光谱仪的光学系统,由中继光学系统和Offner成像光谱仪系统组成,中继光学系统由中继反射镜、中继镜头及分色片构成;Offner成像光谱仪系统由入射狭缝、凸面光栅和凹面反射镜构成;中继光学系统利用分色片将探测波段分光形成四通道,分别由四组中继镜头聚集到光谱仪入射狭缝处。各波段光从光谱仪入射狭缝进入光谱仪,经凸面光栅分光后,光路转折聚焦到探测器上。本发明利用中继反射镜将光路转折,利用分色片将探测波段分为四个通道,从而提高系统的探测分辨率,保证测量准确性,使得整个光学系统体积紧凑。Offner成像光谱仪成像光谱性能优异,尤其对畸变的改善,易于整个系统的小型化、轻型化,适合空间技术应用。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 星载差分 吸收 光谱仪 光学系统 | ||
【主权项】:
一种星载差分吸收光谱仪的光学系统,其特征在于:所述的光学系统包括中继光学系统和Offner成像光谱仪系统;所述中继光学系统包括视场光阑(1)、中继反射镜(2)、第一中继镜头(7)、第二中继镜头(8)、第三中继镜头(9)和第四中继镜头(10)及第一分色片(3)、第二分色片(4)、第三分色片(5)和第四分色片(6);所述Offner成像光谱仪系统包括第一入射狭缝(11)、第二入射狭缝(14)、第三入射狭缝(17)、第四入射狭缝(20)、第一凸面光栅(13)、第二凸面光栅(16)、第三凸面光栅(19)、第四凸面光栅(22)及第一凹面反射镜(12)、第二凹面反射镜(15)、第三凹面反射镜(18)、第四凹面反射镜(21);在视场光阑(1)的后续光路上依次设置有中继反射镜(2)、第一分色片(3)、第二分色片(4)、第三分色片(5)和第四分色片(6);第一分色片(3)、第二分色片(4)、第三分色片(5)和第四分色片(6)将探测目标物的光波段(240nm~710nm)依次分为四个通道,四个通道的波段范围分别是第一紫外通道(240nm~315nm)、第二紫外通道(311nm~403nm)、第一可见光通道(401nm~550nm)、第二可见光通道(545nm~710nm);目标物为240~710nm波段的光从视场光阑(1)处入射,经中继反射镜(2)反射后发生光路转折并形成聚焦光束,经过第一分色片(3),此时240nm~315nm波段的光发生反射,形成第一紫外通道;240~315nm波段的反射光经过第一中继镜头(7)聚焦到后续Offner光谱仪第一入射狭缝(11)处,其余波段的光透过第一分色片(3)后,经第二分色片(4)进行二次分光,311nm~403nm波段的光发生反射,形成第二紫外通道,该反射光经过第二中继镜头(8)聚焦到第二入射狭缝(14)处,其余波段的光透过第二分色片(4)后,经第三分色片(5)再次分光,401nm~550nm波段的光发生反射,形成第一可见光通道,该反射光经过第三中继镜头(9)聚焦到第三入射狭缝(17)处,剩余波段的光透过第三分色片(5),经第四分色片(6)反射后经第四中继镜头(10)聚焦到第四入射狭缝(20)处;第一紫外通道(240nm~315nm)波段光信息从第一入射狭缝(11)进入Offner成像光谱仪系统,由第一凹面反射镜(12)反射至第一凸面光栅(13),分光后转折至第一凹面反射镜(12)处,聚焦到相应的探测器上;第二紫外通道(311nm~403nm)波段光信息从第二入射狭缝(14)进入,由第二凹面反射镜(15)反射至第二凸面光栅(16),分光后转折至第二凹面反射镜(15)处,聚焦到相应的探测器上;第一可见光通道(401nm~550nm)波段光信息从第三入射狭缝(17)进入,由第三凹面反射镜(18)反射至第三凸面光栅(19),分光后转折至第三凹面反射镜(18)处,聚焦到相应的探测器上;第二可见光通道(545nm~ 710nm)波段光信息从第四入射狭缝(20)进入,由第四凹面反射镜(21)反射至第四凸面光栅(22),分光后转折至第四凹面反射镜(21)处,聚焦到相应的探测器上。
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