[发明专利]混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法无效
| 申请号： | 201110399873.0 | 申请日： | 2011-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN102565681A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 张辉;王西强;安之平 | 申请（专利权）人： | 北京创毅视讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3163 | 分类号： | G01R31/3163 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法，能够彻底避免测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，得到准确的测试结果。本发明实施例提供的混合信号芯片中测试模拟电路的装置包括：电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 混合 信号 芯片 测试 模拟 电路 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置，其特征在于，所述装置包括：电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。
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