[发明专利]电路板沉铜质量的检测方法及电路板的制造工艺有效
申请号: | 201110392452.5 | 申请日: | 2011-12-01 |
公开(公告)号: | CN103134778A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 倪超;杨智勤;陆然 | 申请(专利权)人: | 深南电路有限公司 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;H05K3/18 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518053 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种电路板沉铜质量的检测方法及电路板的制作工艺,所述检测方法包括步骤:S101:在电路板板材上的产品区域按照设计需要钻导通孔,在板材产品区域以外的板边区域钻测试孔;S102:在板材板面、导通孔孔壁及测试孔孔壁上形成覆铜层,并在覆铜后采用树脂填充导通孔及测试孔;S103:在板材一面的测试孔处贴上韧性保护膜,对板材沉铜处理;S104:撕去韧性保护膜;S105:检测测试孔处的透光度。本发明能够有效快速监测树脂面上沉铜效果,及时知晓沉铜质量,从而可采取相应的补救措施,避免不必要的报废产生。 | ||
搜索关键词: | 电路板 质量 检测 方法 制造 工艺 | ||
【主权项】:
一种电路板沉铜质量的检测方法,其特征在于,包括步骤:S101:在电路板板材上的产品区域按照设计需要钻导通孔,在板材产品区域以外的板边区域钻测试孔;S102:在板材板面、导通孔孔壁及测试孔孔壁上形成覆铜层,并在覆铜后采用树脂填充导通孔及测试孔;S103:在板材一面的测试孔处贴上韧性保护膜,对板材沉铜处理;S104:撕去韧性保护膜;S105:检测测试孔处的透光度,如果透光度大于或等于设定的阈值,则判定沉铜质量不合格,如果透光度小于设定的阈值,则判定沉铜质量合格。
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