[发明专利]混合核素γ点源体积样品效率刻度方法

摘要

本发明属于电离辐射计量技术，具体涉及一种混合核素γ点源体积样品效率刻度方法。该方法采用固体混和核素γ点源在探测器周围的测量结果，并结合蒙特卡罗模拟计算，确定探测器对任意轴对称形状体积样品的探测效率。本发明通过混合核素γ点源在探测器周围的测量结果，可确定体积样品探测效率曲线。进而在保证刻度结果量值溯源性的前提下，避免了其它刻度方法(例如标准体积样品刻度)所带来的制作工艺复杂、放射性废物的产生等问题。

主权项

一种混合核素γ点源体积样品效率刻度方法，包括如下步骤：(1)通过蒙特卡罗模拟方法或标准混合伽玛点源测量方法确定探测器周围多点处的探测效率，获得一组探测效率曲线；(2)对步骤(1)中获得的各点处的探测效率进行样条拟合并以内插的方式得到探测器周围更为精确的探测效率；(3)在不考虑衰减或空气等效情况下，对样品的每一种能量的探测效率按样品所占的体积进行积分，进而得出不考虑衰减或空气等效情况下探测器对给定样品的每一种能量的探测效率；(4)根据样品所占的空间范围内各点的探测效率在所考虑的所有能点处以最小总体偏差原则选定代表点；(5)在代表点处，使用标准混合伽玛点源测量方法进行测量，得到无衰减情况下，探测器对给定样品的探测效率曲线；(6)根据样品的物质成分及密度，由蒙特卡罗模拟确定每一能量点的衰减因子，并由此对探测效率曲线作衰减修正，最终得到探测系统对某一给定放射性样品的探测效率曲线。