[发明专利]基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法有效
| 申请号： | 201110391895.2 | 申请日： | 2009-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN102590234A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 肖永顺;陈志强;张丽;刘圆圆;邢宇翔;赵自然 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G06T7/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 直线 轨迹 扫描 双能欠 采样 物质 识别 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别方法，包括：利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建；在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记；利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能欠采样物质识别成像。
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