[发明专利]一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法有效
| 申请号： | 201110391568.7 | 申请日： | 2011-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102508037A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 陈巍巍;陈岚;龙爽;杨诗洋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明;王宝筠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法，该系统包括四条连续的位线，每条位线连接一个选通装置，四个选通装置相同，所述四个选通装置分别为：第一选通装置、第二选通装置、第三选通装置以及第四选通装置，多个存储单元，每个存储单元与相邻的两条所述位线相邻，还包括：选通控制装置、高电平提供装置、低电平提供装置、第一电压测试装置、第二电压测试装置、第一电流测试装置、电阻测试装置、计算单元。本发明实施例通过选取连续四条位线实现对存储单元的读写操作，并选择其中两端的位线作为选通装置的电压测试端，能够准确获取选通装置的等效电阻，实现对选通装置的性能优劣进行评估，进而提高对存储单元进行读写操作的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 位线选通 装置 等效 电阻 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种位线选通装置等效电阻的测试系统，包括四条连续的位线，每条位线连接一个选通装置，四个选通装置相同，所述四个选通装置分别为：第一选通装置、第二选通装置、第三选通装置以及第四选通装置，多个存储单元，每个存储单元与相邻的两条所述位线相邻，还包括：选通控制装置，分别与所述四个选通装置相连，用于同时开启所述四个选通装置；高电平提供装置，与所述第三选通装置相连，用于向所述第三选通装置提供高电平电压；低电平提供装置，与所述第二选通装置相连，用于向所述第二选通装置提供低电平电压；第一电压测试装置，与所述第一选通装置相连，用于测试所述第一选通装置端口的电压；第二电压测试装置，与所述第四选通装置相连，用于测试所述第四选通装置端口的电压；第一电流测试装置，用于测试流过所述第三选通装置的电流；电阻测试装置，用于测试与连接所述第二选通装置的位线和连接所述第三选通装置的位线相连的存储单元的电阻；计算单元，用于依据所述高电平电压、所述低电平电压、所述第一选通装置端口的电压、所述第四选通装置端口的电压、所述电流以及所述电阻计算所述位线选通装置等效电阻。
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