[发明专利]一种TM/ETM+影像大气校正产品质量评价方法有效
申请号: | 201110388540.8 | 申请日: | 2011-11-30 |
公开(公告)号: | CN102495405A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 刘耀林;赵翔;刘艳芳;刘殿锋;马潇雅;王华;刘中秋 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 鲁力 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种TM/ETM+影像大气校正产品质量评价方法,包括以下步骤:1,获取产品影像,并随机选取一期参考影像;2,匹配1中的产品影像和参考影像之间的地理坐标系;3,采用系统抽样的方法,从产品影像和参考影像中抽取若干样本,并分别计算产品影像和参考影像对应样本在参考影像和产品影像上的光谱值;4,分别进行上述2中产品影像和参考影像的不变地物样本识别,并保存有效的不变地物样本;5,根据4中有效的不变地物样本分析产品影像的大气校正质量。本发明具有如下优点:能够为区域或全球地表变化研究提供十分重要的基础影像质量信息;能够在具有不同时相/季相的TM/ETM+影像上较为准确的识别出PIFs样本。 | ||
搜索关键词: | 一种 tm etm 影像 大气 校正 产品质量 评价 方法 | ||
【主权项】:
一种TM/ETM+影像大气校正产品质量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,获取产品影像,并随机选取一期经过验证的高质量TM/ETM+地表反射率影像作为产品影像大气校正质量评价的参考影像;步骤2,匹配步骤1中的产品影像和参考影像之间的地理坐标系;步骤3,采用系统抽样的方法,分别根据地表分布状况从产品影像和参考影像中抽取若干样本,并分别计算产品影像和参考影像对应样本在参考影像和产品影像上的光谱值,其中样本各波段光谱值为样本在该波段像元集合光谱值的平均值;步骤4,分别进行上述步骤2中的产品影像和参考影像对应样本在产品影像和参考影像的不变地物样本识别,并保存有效的不变地物样本;步骤5,采用回归分析方法根据步骤4中有效的不变地物样本分析产品影像的大气校正质量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110388540.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。