[发明专利]放射线成像系统和放射线照相图像处理方法无效

专利信息
申请号: 201110388297.X 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN102551759A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 石井裕康 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 杨静
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种图像处理器,包括:位置偏离量计算部、位置偏离量校正部、微分相位图像产生器和减法处理部。位置偏离量计算部通过检测根据初步放射线照相中获得的图像数据产生的强度调制信号与根据实际放射线照相中获得的图像数据产生的强度调制信号之间的差值,计算初步放射线照相与实际放射线照相之间每个扫描位置的位置偏离量。位置偏离量校正部使用计算出的位置偏离量,校正由微分相位图像产生器在实际放射线照相中产生第一微分相位图像时使用的扫描位置数据。减法处理部从实际放射线照相中产生的第一微分相位图像中减去在初步放射线照相中产生的第二微分相位图像。
搜索关键词: 放射线 成像 系统 照相 图像 处理 方法
【主权项】:
一种放射线成像系统,包括:第一和第二光栅,相对布置,同时光栅方向一致;扫描装置,将所述第一和第二光栅之间的相对位置改变为与所述光栅方向垂直的方向,从而依次将所述相对位置设置在多个扫描位置处;放射线照相图像检测器,当所述相对位置设置在每个所述扫描位置处时,捕捉从放射线源施加的穿过所述第一和第二光栅的放射线的图像,并产生图像数据;微分相位图像产生装置,通过获得强度调制信号的相移量来产生微分相位图像,所述强度调制信号表示所述图像数据中包含的每个像素值的与所述扫描位置相关的改变,所述微分相位图像产生装置根据在存在样本的情况下执行的实际放射线照相中获得的所述图像数据来产生第一微分相位图像,并根据在不存在所述样本的情况下执行的初步放射线照相中获得的所述图像数据来产生第二微分相位图像;位置偏离量计算装置,通过检测在所述初步放射线照相中获得的所述强度调制信号与在所述实际放射线照相中获得的所述强度调制信号之间的差值,计算所述初步放射线照相与所述实际放射线照相之间每个所述扫描位置的位置偏离量;位置偏离量校正装置,基于计算出的所述位置偏离量,校正由所述微分相位图像产生装置在产生所述第一和第二微分相位图像之一时使用的扫描位置数据;以及减法处理装置,从所述第一微分相位图像中减去所述第二微分相位图像。
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