[发明专利]高光取出率发光二极管,及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110349582.0 申请日: 2011-11-08
公开(公告)号: CN102810608A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 罗信明;许世昌 申请(专利权)人: 兆鑫光电科技股份有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/00
代理公司: 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 代理人: 张雅军;顾以中
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种高光取出率发光二极管,包含一磊晶基板、一发光单元,及一电极单元,该磊晶基板具有一基材,及多个第一透光锥,所述第一透光锥概呈锥状,由折射率低于该基材的材料构成,且任两相邻第一透光锥彼此不连接,该发光单元具有一第一型半导体层,该第一型半导体层具有一底膜、多个形成于该底膜表面的第二透光锥,及一形成于该底膜及所述第二透光锥表面的顶膜,所述第二透光锥由折射率与该顶膜及底膜不同的材料构成,且任两相邻第二透光锥彼此不连接,借由第一透光锥、第二透光锥的形状及与第一型半导体层及基材的折射率差,有效提升发光二极管的光取出率。此外,本发明还同时提供该高光取出率发光二极管的制作方法。
搜索关键词: 取出 发光二极管 及其 制作方法
【主权项】:
一种高光取出率发光二极管,包含一个磊晶基板、一个发光单元,及一个用以提供电能至该发光单元的电极单元;其特征在于:该磊晶基板具有一个基材,及多个第一透光锥,该基材具有一个平坦的表面,所述第一透光锥呈锥状,是由与该基材不同且折射率低于该基材的材料构成而形成于该表面,且任两个相邻的第一透光锥彼此不连接,该发光单元设置在该磊晶基板具有所述第一透光锥的表面,在接收电能时以光电效应发光,具有依序自该基材及所述第一透光锥的表面向上形成的一个第一型半导体层、一个发光层,及一个电性与该第一型半导体层相反的第二型半导体层,且该第一型半导体层具有一个与该基材及所述第一透光锥连接的底膜、多个形成于该底膜表面的第二透光锥,及一个形成于该底膜及所述第二透光锥表面的顶膜,所述第二透光锥呈锥状,由折射率与该顶膜及底膜不同的材料构成,且任两个相邻的第二透光锥彼此不连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兆鑫光电科技股份有限公司,未经兆鑫光电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110349582.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top