[发明专利]对缺陷管理建模及基于缺陷管理处理缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201110333702.8 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN102467699A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: A.博埃罗;I.塞尔瓦焦 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;李家麟
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于对制造过程中的缺陷管理例程建模以及用于基于所述缺陷管理例程在生产过程期间处理缺陷的方法,在制造执行系统内执行建模和处理二者,该方法包括下述步骤:在工程阶段期间的步骤和在运行时生产阶段期间的步骤。
搜索关键词: 缺陷 管理 建模 基于 处理 方法
【主权项】:
一种用于对制造过程(PS1至PS4)中的缺陷管理例程建模以及用于基于所述缺陷管理例程在生产过程(PS1至PS4)期间处理缺陷的方法,在制造执行系统(MES)内执行建模和处理二者,该方法包括下述步骤:在工程阶段(EP)期间a)对生产过程(PS1至PS4)建模以及创建在生产过程(PS1至PS4)期间可能发生的可能的缺陷类型(DT)的库(DC, DMT_DF_TYP_CTLG);b)把缺陷类型(DT)分配给代表用于收集不同但相关的缺陷类型(DT)的层次群集(DMT_GRP‑GRP_RLTNSHP, DMT_DF_TYP_GRP_RLTNSHP, DMT_DF_TYP_TYP_RLTNSHP)的至少一个缺陷组(Grp‑01至Grp‑15,DMT_GRP);c)创建缺陷规范(DMT_SPEC)的库;每个缺陷规范(DMT_SPEC)链接到缺陷类型(DT);d)创建把缺陷类型(DT)分配给资源相关上下文的缺陷类型规范细节(DMT_SPEC_RNG, DMT_SPEC_TLRN, DMT_SPEC_SET, DMT_SPEC_VSBL)的库;e)可选地把根据生产过程(PS1至PS4)制造的正确产品的图像(DMT_IMG, DMT_TYP_IMG)分配给缺陷类型(DT);f)创建用于把缺陷类型(DT)链接到特定生产量的至少一个运行时缺陷准则(DMT_RT_DF, DMT_RT_SPEC, DMT_DF_CLS);g)创建监测在缺陷类型(DT)的识别之后执行的纠正措施的结果的运行时缺陷测量例程(DMT_RT_MSR, DMT_RT_MSR_SPEC, DMT_DF_CLS);以及在运行时生产阶段期间h)对照预定质量准则评估根据生产过程(PS1至PS4)生产的产品;i)在违反所述预定质量准则的情况下,识别缺陷类型(DT)的库(DC, DMT_DF_TYP_CTLG)之中的相应缺陷类型(DT);j)使用识别的缺陷类型(DT)以    a.确定纠正措施,    b.确定识别引起缺陷类型(DT)的资源的运行时缺陷准则(DMT_RT_DF, DMT_RT_SPEC, DMT_DF_CLS),    c.确定可能受到这种缺陷类型(DT)影响的生产量,    d.运行相应运行时缺陷测量例程(DMT_RT_MSR, DMT_RT_MSR_SPEC, DMT_DF_CLS)。
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