[发明专利]一种机械结构变形量的动态测量方法有效
申请号: | 201110325895.2 | 申请日: | 2011-10-24 |
公开(公告)号: | CN102506808A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 王东伟;刘勇;陈晓晖;贺燕;殷晴 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01B21/32 | 分类号: | G01B21/32 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及几何量计量领域,特别公开了一种机械结构变形量的动态测量方法。通过选用微晶玻璃球作为被测目标,将其通过设计的方法安装在被测工件上,测量环境温度改变前后的坐标值,得出温度改变后每个特征点的位置偏差,这种间接测量的方法解决了复合材料结构变形的测量问题,同时使用微晶玻璃材料制作标准球,材料热膨胀系数小,且接近复合材料,将标准球引入的误差降至最小,利用反射法测量工件被遮挡部分,使用非接触方式对复杂结构进行测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 机械 结构 变形 动态 测量方法 | ||
【主权项】:
一种机械结构变形量的动态测量方法,其特征在于,该方法包含如下步骤:1)选用微晶玻璃球作为被测目标,球心作为特征点;2)将上述微晶玻璃球固定在被测工件上;3)将微晶玻璃球作为基准坐标点,测量微晶玻璃球的球心坐标值,每个球心的坐标记为xi,yi,zi;i=1,2,3,...N,N为特征点个数;4)将平面反射镜固定,平面反射镜的位置满足如下条件:确定一个被测工件上的微晶玻璃球,使其在平面反射镜的像能够被测量到;5)通过平面反射镜测量工件背面的特征点;6)改变温度条件,记录N个特征点的位置变化;并记录每一个时间点下,特征点位置坐标为Xij,Yij,Zij,j=1,2,3..M,M为时间点个数;7)通过下式得出温度改变后每个特征点的位置偏差 Δ = ( X ij - x i ) 2 + ( Y ij - y i ) 2 + ( Z ij - z i ) 2 .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110325895.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。