[发明专利]一种机械结构变形量的动态测量方法有效

专利信息
申请号: 201110325895.2 申请日: 2011-10-24
公开(公告)号: CN102506808A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 王东伟;刘勇;陈晓晖;贺燕;殷晴 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及几何量计量领域,特别公开了一种机械结构变形量的动态测量方法。通过选用微晶玻璃球作为被测目标,将其通过设计的方法安装在被测工件上,测量环境温度改变前后的坐标值,得出温度改变后每个特征点的位置偏差,这种间接测量的方法解决了复合材料结构变形的测量问题,同时使用微晶玻璃材料制作标准球,材料热膨胀系数小,且接近复合材料,将标准球引入的误差降至最小,利用反射法测量工件被遮挡部分,使用非接触方式对复杂结构进行测量。
搜索关键词: 一种 机械 结构 变形 动态 测量方法
【主权项】:
一种机械结构变形量的动态测量方法,其特征在于,该方法包含如下步骤:1)选用微晶玻璃球作为被测目标,球心作为特征点;2)将上述微晶玻璃球固定在被测工件上;3)将微晶玻璃球作为基准坐标点,测量微晶玻璃球的球心坐标值,每个球心的坐标记为xi,yi,zi;i=1,2,3,...N,N为特征点个数;4)将平面反射镜固定,平面反射镜的位置满足如下条件:确定一个被测工件上的微晶玻璃球,使其在平面反射镜的像能够被测量到;5)通过平面反射镜测量工件背面的特征点;6)改变温度条件,记录N个特征点的位置变化;并记录每一个时间点下,特征点位置坐标为Xij,Yij,Zij,j=1,2,3..M,M为时间点个数;7)通过下式得出温度改变后每个特征点的位置偏差 Δ = ( X ij - x i ) 2 + ( Y ij - y i ) 2 + ( Z ij - z i ) 2 .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110325895.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top