[发明专利]一种磁试验转台有效
申请号: | 201110322603.X | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN102426341A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 董伟;陈涛;沈超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
主分类号: | G01R33/00 | 分类号: | G01R33/00 |
代理公司: | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人: | 杨小蓉;高宇 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种磁试验转台,所述转台包括转台本体(3)和旋转平台(8),所述转台本体(3)包括转台基座法兰盘(7)和柱形体(36),所述柱形体(36)内部形成柱形空腔并与位于其上方的旋转平台(8)相啮合,在所述柱形体(36)的空腔中设置调节总成部件(50),所述调节总成部件(50)包括粗调单元和细调单元以及调节转换装置(49)。本发明的优点在于:1)结构合理,使用方便,方位易于调节,测量精度高,误差小;2)被测件易于对正,固定强度高,整体结构及稳定性好,组装精度高;3)本体垂直尺度小,结构紧凑,加之转台基座法兰位置高,稳固性好;4)采用非磁性材料和工程塑料,测量环境影响小。 | ||
搜索关键词: | 一种 试验 转台 | ||
【主权项】:
一种磁试验转台,所述转台包括转台本体(3)和旋转平台(8),所述转台本体(3)包括转台基座法兰盘(7)和柱形体(36),所述柱形体(36)内部形成柱形空腔并与位于其上方的旋转平台(8)相啮合,其特征在于,在所述柱形体(36)的空腔中设置调节总成部件(50),所述调节总成部件(50)包括粗调单元和细调单元以及调节转换装置(49);所述粗调单元包括粗调节齿杆(28),所述的粗调节齿杆(28)的末端的伞齿轮与平台旋转轴(27)下端的旋转轴伞齿轮(55)相互啮合,通过粗调节齿杆(28)端部的方位粗调节旋钮(4)实现旋转平台(8)方位粗调;所述细调单元包括细调节蜗杆(24)和同轴耦合蜗轮齿轮组(30),所述细调节蜗杆(24)末端与一细调节蜗杆齿轮的齿轮相啮合,所述同轴耦合蜗轮齿轮组(30)为同直径的上齿轮(23)和下齿轮(20)同轴紧贴组成的共齿轮缘的蜗轮齿轮,所述蜗轮齿轮与细调节蜗杆齿轮的蜗杆相啮合,所述细调节蜗杆(24)转动时,带动细调节蜗杆齿轮的转动,引起与之啮合的同轴耦合蜗轮齿轮组(30)转动,所述的同轴耦合蜗轮齿轮组(30)通过上齿轮顶面(35)与调节分离压盘(44)下表面之间的摩擦力使其与平台旋转轴(27)连结为一体,将动力传递到平台旋转轴(27),实现旋转平台(8)方位细调;所述调节转换装置(49)包括粗细调节转换旋钮(41)、粗细调节转轴(40)、粗细调节偏心轴(45)、摆动臂转轴支架(43)、摆动臂(53)、弹簧定位档片(38)、转换压盘弹簧(48)、分离环(46)、调节分离压盘(44)和分离盘定位销(47);其中,粗细调节转轴(40)和粗细调节偏心轴(45)为不共轴线的两段平行相接的轴段,粗细调节转轴(40)穿过转台侧壁的轴孔一外端固定有粗细调节转换旋钮(41),位于柱形空腔内部的另一端与粗细调节偏心轴(45)平行相接,而完全位于转台柱形空腔内部的粗细调节偏心轴(45)围绕粗细调节转轴(40)的轴线转动;所述的调节转换装置(49)最上部的摆动臂(53)成H型,其两尖端通过分离盘定位销(47)与调节分离压盘(44)连接,另一端与固定在转台本体(3)内部桶形空腔侧壁上的摆动臂转轴支架(43)的水平孔铰接,粗细调节偏心轴(45)位于摆动臂(53)之下的中部位置,粗细调节偏心轴(45)围绕粗细调节转轴(40)的轴线转动时,通过与粗细调节转轴(40)轴线互错的粗细调节偏心轴(45)在等于或大于90度的旋转角度的偏心转动来顶起或放下与其接触的摆动臂(53),从而带动摆动臂(53)的两个尖端以更大的摆动幅度抬高或放下,所述摆动臂(53)的两个尖端放下时,位于摆动臂(53)两个尖端的分离盘定位销(47)带动分离环(45)压缩转换压盘弹簧(48)并抬起调节分离压盘(44)使调节分离压盘(44)与上齿轮顶面(35)分离,在所述情况下只能进行粗调;所述控制粗细调节状态的粗细调节转换旋钮(41)套设于粗细调节转轴(40)端部的安装轴上,位于转台本体(3)外侧并与方位粗调节旋钮(4)处于同侧位置,所述粗细调节转换旋钮(41)还包括设置于方位粗调节旋钮(4)的上方、外侧、可旋转的粗调节旋钮罩(42),细调时,将粗调节旋钮罩(42)旋转下来将粗调节旋钮(4)罩住,在该状态下只能进行细调。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院空间科学与应用研究中心,未经中国科学院空间科学与应用研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110322603.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:PI参数混合整定法
- 下一篇:一种推拉力计的辅助校准装置