[发明专利]带有集成箝位电路的累积型场效应管无效

专利信息
申请号: 201110320036.4 申请日: 2011-10-11
公开(公告)号: CN102468298A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 伍时谦;安荷·叭剌;王晓彬 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/335
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;徐雯琼
地址: 美国加利福尼亚桑*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提出了一种场效应管,它包括具有栅极、源极和漏极区的半导体衬底;以及形成在半导体衬底上的一个p-n结,p-n结与栅极、漏极和源极区电连接,以获得所需的击穿电压。在一个实施例中,栅极区还包括多个空间分离的沟槽栅极,p-n结由外延层和带有金属化层界面之间的交界面限定。击穿电压在一定程度上由所形成的p-n结的数量所决定。在另一个实施例中,通过在位于沟槽栅极附近的外延层区域中,制备多个空间分离的p-型区,形成p-n结。
搜索关键词: 带有 集成 箝位 电路 累积 场效应
【主权项】:
一种集成电路,其特征在于,该集成电路包含:一个半导体衬底,在该衬底上形成带有栅极、源极和漏极区的累积型场效应管;以及一个肖特基二极管,形成在所述的半导体衬底上,并与所述的累积FET型场效应管中所述的漏极和源极区并联耦合,以获得所需的击穿电压。
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