[发明专利]谐振腔技术测试谐振式光学陀螺中背散射噪声装置及方法

摘要

本发明公开了一种谐振腔技术测试谐振式光学陀螺中背散射噪声装置及方法。它在谐振式光学陀螺系统结构的基础上，测得谐振曲线，对背散射噪声抑制前后谐振曲线的不对称度进行标定和比较，得到背散射噪声对陀螺系统的影响。测试谐振式光学陀螺中背散射噪声的装置：扫描信号发生器、激光器、第一耦合器、第一相位调制器、第二相位调制器、第一环形器、第二环形器、第二耦合器、环形谐振腔、第一光电探测器、第二光电探测器、第一调制信号发生器、第二调制信号发生器。本发明提供了一种新型测试谐振式光学陀螺中背散射噪声的方法，可以在谐振式光学陀螺系统中直接进行测试，具有重要的科学意义与应用价值。

主权项

一种谐振腔技术测试谐振式光学陀螺中背散射噪声装置，其特征在于包括扫描信号发生器(1)、激光器(2)、第一耦合器(3)、第一相位调制器(4)、第二相位调制器(5)、第一环形器(6)、第二环形器(7)、第二耦合器(8)、环形谐振腔(9)、第一光电探测器(10)、第二光电探测器(11)、第一调制信号发生器(12)和第二调制信号发生器(13)；扫描信号发生器(1)、激光器（2）、第一耦合器(3)一端顺次连接，第一耦合器(3)另一端分为逆时针和顺时针两路：逆时针一路第一相位调制器(4)、第一环形器(6)、第二耦合器(8)、环形谐振腔(9)顺次连接，顺时针一路第二相位调制器(5)、第二环形器(7)、第二耦合器(8)、环形谐振腔(9) 顺次连接，第一调制信号发生器(13)与第一相位调制器(4)连接，第一环形器(6)与第二光电探测器(11)连接，第二调制信号发生器(12)与第二相位调制器(5)连接，第二环形器(7)与第一光电探测器(10) 连接。