[发明专利]一种用于列控系统的测试装置及方法有效
申请号: | 201110263593.7 | 申请日: | 2011-09-07 |
公开(公告)号: | CN102354209A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 林东峰;张宇;张硕 | 申请(专利权)人: | 北京和利时系统工程有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 栗若木;王漪 |
地址: | 100096 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于列控系统的测试装置及方法,涉及仿真测试系统。本发明公开的测试装置包括:测试控制模块,接收测试控制命令,查找所收到的测试控制命令对应的测试用例,将所收到的测试控制命令发送给所查找到的测试用例采用的仿真系统,接收所述仿真系统按照所述测试控制命令进行操作的处理结果;测试管理模块,将所接收到的处理结果与所述测试控制命令对应的测试用例的预期结果进行比对,以获取测试结果。本申请的技术方案实现了预期结果和实际结果之间的自动比对过程,从而节省了大量的人力资源,并且缩短了测试周期,提高了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 系统 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于列控系统的测试装置,其特征在于,该装置包括:测试控制模块,接收测试控制命令,查找所收到的测试控制命令对应的测试用例,将所收到的测试控制命令发送给所查找到的测试用例采用的仿真系统,接收所述仿真系统按照所述测试控制命令进行操作的处理结果;测试管理模块,将所接收到的处理结果与所述测试控制命令对应的测试用例的预期结果进行比对,以获取测试结果。
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